应力双折射系统WPA-200
应力双折射测量系统WPA-200可测量相位差高达3500nm,适合PC高分子材料,是Photonic lattic公司以光子晶体制造技术开发的产品,独特的测量技术,高速而又精确的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。
Star Oddi DST milli-T PU 温度巴氏杀菌记录仪
小而经济的数据记录器。瓶子温度监控器无需外部设备,传感器内部封闭容器系统。为饮料质量和过程控制,产品开发,包装和物流提供温度和巴氏杀菌数据
CMI250 便携式涂镀层测厚仪
CMI250涂镀层测厚仪运用了钢铁及有色金属底材上涂层厚度的先进测量技术。双功能技术特色:基于磁感应和电涡流技术,具有统计分析功能和USB电脑接口。CMI250是一款多功能仪器,其技术基础是我们久负盛名的涡流/磁感应双探头技术。